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PID測試系統(電(diàn)位誘發衰減)

PID測試系統(電(diàn)位誘發衰減)

PID效應(potential Induced Degradation)全稱電(diàn)勢誘導衰減,PID測試标準引自(zì)于IEC62804-1:System Voltage durability test for crystalline silicon modules,測試要求是将組件(jiàn)置于一(yī)定的溫度,濕度環境,将組件(jiàn)内部導電(diàn)體與高(gāo)壓電(diàn)源的一(yī)個(gè)級連接在一(yī)起,組件(jiàn)外導電(diàn)體與高(gāo)壓電(diàn)源的另一(yī)個(gè)較連接

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PID效應(potential Induced Degradation)全稱電(diàn)勢誘導衰減,PID測試标準引自(zì)于IEC62804-1:System Voltage durability test for crystalline silicon modules,測試要求是将組件(jiàn)置于一(yī)定的溫度,濕度環境,将組件(jiàn)内部導電(diàn)體與高(gāo)壓電(diàn)源的一(yī)個(gè)級連接在一(yī)起,組件(jiàn)外導電(diàn)體與高(gāo)壓電(diàn)源的另一(yī)個(gè)較連接

産品名稱:PID電(diàn)源測試系統(電(diàn)勢誘導衰減

一(yī):PID電(diàn)源測試系統簡介

PID效應(potential Induced Degradation)全稱電(diàn)勢誘導衰減,PID測試标準引自(zì)于IEC62804-1:System Voltage durability test for crystalline silicon modules,測試要求是将組件(jiàn)置于一(yī)定的溫度,濕度環境,将組件(jiàn)内部導電(diàn)體與高(gāo)壓電(diàn)源的一(yī)個(gè)級連接在一(yī)起,組件(jiàn)外導電(diàn)體與高(gāo)壓電(diàn)源的另一(yī)個(gè)較連接

二:PID電(diàn)源技(jì)術(shù)規格:

2.1本PID電(diàn)源具有8/12/16/20路(lù)通(tōng)道輸出,能(néng)夠提供多(duō)個(gè)組件(jiàn)同時測試,電(diàn)壓可以連續調節,電(diàn)壓參數能(néng)夠實時顯示便于監控

2.2系統具備電(diàn)流顯示功能(néng),且8/12/16/20路(lù)通(tōng)道電(diàn)流分别同時顯示

2.3正負較性能(néng)一(yī)切換,安全高(gāo)效

2.4每個(gè)輸出或輸入通(tōng)道端接孔必須便于連線的插拔(便捷,安全)

2.5組件(jiàn)邊框接地,連接器(qì)短接後接高(gāo)壓端,負壓試驗及正壓恢複時隻需軟件(jiàn)切換,不需改變連接方式(電(diàn)源正較和電(diàn)源負較能(néng)夠實現無弧化轉換)。模拟系統的正較接地或負較接地(能(néng)夠實現pid測試及pid恢複測試)

2.6電(diàn)源具有漏電(diàn)流啓動緊急信号功能(néng),啓動緊急信号可設置範圍;(0~100微安/-100~0微安)

2.7可以設置測試時間,實驗結束,電(diàn)源系統自(zì)動停止

2.8标配:①PID電(diàn)源一(yī)台(輸入AC220V,給電(diàn)源供電(diàn) )②工(gōng)控計算(suàn)機(jī)一(yī)台(配置簡單中文軟件(jiàn)監控,漏電(diàn)流實時記錄,掃描間隔時間可通(tōng)過軟件(jiàn)設置,數據導出格式:Excel )③組件(jiàn)邊框連接線(8/12根),組件(jiàn)MC4連接器(qì)(12套)

2.9配件(jiàn):PID測試專項使用高(gāo)壓線

2.10設備尺寸:600*600*1600mm(L*W*H)或定制

2.11控制電(diàn)腦(nǎo): DELL 19 寸顯示器(qì) 研祥PIC810工(gōng)業(yè)電(diàn)腦(nǎo)

三,系統介紹:

軟件(jiàn)控制

u  8/12通(tōng)道PID測試系統,僅供參考;

u  系統能(néng)夠同時顯示每一(yī)路(lù)的電(diàn)流和電(diàn)壓值和曲線;

u  用戶可以根據實驗需要設定系統的啓動/停止時間;

u  具備與環境試驗箱通(tōng)訊接口:當環境試驗箱發生(shēng)故障時,環境電(diàn)源會(huì)自(zì)動接收到(dào)環境試驗箱的故障信息;軟件(jiàn)會(huì)強制電(diàn)源系統輸出為(wèi)“0”,避免由于雙系統的不協調導緻測試樣品的損壞和設備的安全性。

四, 測試流程

本系統可以滿足不同技(jì)術(shù)路(lù)線光(guāng)伏組件(jiàn)的PID測試,可以同時滿足:IEC62804-1:System Voltage durability test for crystalline silicon modules 标準要求中的PID Stress test method (a)和PID Stress test method (b)

五,安全保護功能(néng)

5.1過電(diàn)流啓動緊急信号:當有一(yī)路(lù)漏電(diàn)流超過1mA時,系統軟件(jiàn)會(huì)強制電(diàn)源系統輸出為(wèi)“0”,保證測試人員(yuán)生(shēng)命安全

5.2過壓啓動緊急信号:當有一(yī)路(lù)電(diàn)壓超過設定值的10%時,系統軟件(jiàn)會(huì)強制電(diàn)源系統輸出為(wèi)“0”,保證測試人員(yuán)生(shēng)命安全

5.3超溫啓動緊急信号:當系統運行溫度超過60℃是時,系統軟件(jiàn)會(huì)強制電(diàn)源系統輸出為(wèi)“0”,保證測試人員(yuán)生(shēng)命安全

5.4與環境試驗箱通(tōng)訊接口:當環境試驗箱發生(shēng)故障時,環境電(diàn)源會(huì)自(zì)動接收到(dào)環境試驗箱的故障信息。軟件(jiàn)會(huì)強制電(diàn)源系統輸出為(wèi)“0”,避免由于雙系統的不協調導緻測試樣品的損壞和設備的安全性