常溫老化測試系統是專門(mén)用于LED燈珠，LED芯片在常溫狀态下(xià)的老化測試。
1.采用專用定電(diàn)流電(diàn)源、每套最多(duō)可插40片PCB闆、每片闆可點亮20顆CHIP、最多(duō)可同時點亮800顆 CHIP。
2.數位化參數設定輸入功能(néng)。
3.适用于LEDLDVCSEL芯片、封裝的常溫老化測試。
規格參數
單路(lù)輸出電(diàn)流：200或其它定制規格
電(diàn)壓範圍：DC 5V、DC 12V或客制化規格
基闆數量：10片、20片、40片、60片、80片
